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Utilize este identificador para citar ou criar um link para este item: http://acervodigital.unesp.br/handle/11449/116600
Título: 
Electrical behavior analysis of n-type CaCu3Ti4O12 thick films exposed to different atmospheres
Autor(es): 
Instituição: 
  • Univ Mar del Plata UNMdP
  • Universidade Estadual Paulista (UNESP)
  • CTI Renato Archer
ISSN: 
0955-2219
Financiador: 
  • ANPCyT (Agencia Nacional de Promocion Cientifica y Tecnologica, Argentina)
  • Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico (CNPq)
  • Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior (CAPES)
Resumo: 
In this work n-type CaCu3Ti4O12 (CCTO) thick films obtained by screen printing were studied. The role of the potential barrier characteristics (height and width) was considered in order to explain the electrical behavior. The electrical response was also analyzed considering the oxygen adsorption and subsequent diffusion into the grains at temperatures higher than 280 degrees C. Tunnel currents were also calculated taking into account the donor concentration values for films in vacuum atmosphere. Published by Elsevier Ltd.
Data de publicação: 
1-Jan-2015
Citação: 
Journal Of The European Ceramic Society. Oxford: Elsevier Sci Ltd, v. 35, n. 1, p. 153-161, 2015.
Duração: 
153-161
Publicador: 
Elsevier B.V.
Palavras-chaves: 
  • Semiconductor
  • Conduction mechanism
  • CaCu3Ti4O12
  • Diffusion
Fonte: 
http://dx.doi.org/10.1016/j.jeurceramsoc.2014.08.041
Endereço permanente: 
Direitos de acesso: 
Acesso restrito
Tipo: 
outro
Fonte completa:
http://repositorio.unesp.br/handle/11449/116600
Aparece nas coleções:Artigos, TCCs, Teses e Dissertações da Unesp

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