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Utilize este identificador para citar ou criar um link para este item: http://acervodigital.unesp.br/handle/11449/132365
Título: 
Crystallization process of amorphous GaSb films studied by Raman spectroscopy
Autor(es): 
Instituição: 
  • Universidade Estadual Paulista (UNESP)
  • Universidade Federal de São Carlos (UFSCar)
ISSN: 
0021-8979
Resumo: 
Thermal annealings of amorphous gallium antimonide films were accompanied using Raman spectroscopy, both for stoichiometric and nonstoichiometric compositions. The films were prepared by flash evaporation on silicon substrates. Structural changes were induced by the heat treatments: an increasing degree of crystallization as a function of the annealing temperature is observed. Sb clusters are found to crystallize before GaSb does, and the dependence of the corresponding Raman peak intensity with the annealing temperature (occurring in two regimes) is explained. A mechanism for the crystallization of the amorphous GaSb is proposed, based on the prior migration of the Sb excess outside the GaSb region to be crystallized. © 1995 American Institute of Physics.
Data de publicação: 
1-Dez-1995
Citação: 
Journal of Applied Physics, v. 77, n. 8, p. 4044-4048, 1995.
Duração: 
4044-4048
Publicador: 
American Institute of Physics (AIP)
Fonte: 
http://dx.doi.org/10.1063/1.359486
Endereço permanente: 
Direitos de acesso: 
Acesso restrito
Tipo: 
outro
Fonte completa:
http://repositorio.unesp.br/handle/11449/132365
Aparece nas coleções:Artigos, TCCs, Teses e Dissertações da Unesp

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