Search for excited electrons in p(p)over-bar collisions at root s=1.96 TeV

Abazov, V. M.; Abbott, B.; Abolins, M.; Acharya, B. S.; Adams, M.; Adams, T.; Aguilo, E.; Ahn, S. H.; Ahsan, M.; Alexeev, G. D.; Alkhazov, G.; Pol, M. -E.; Polozov, P.; Pope, B. G.; Popov, A. V.; Potter, C.; Gutierrez, P.; da Silva, W. L. Prado; Prosper, H. B.; Bargassa, P.; Kharchilava, A.; Mendoza, L.; Das, A.; Protopopescu, S.; Qian, J.; Quadt, A.; Quinn, B.; Rakitine, A.; Rangel, M. S.; Gutierrez, G.; Ranjan, K.; Ratoff, P. N.; Mercadante, P. G.; Cihangir, S.; Renkel, P.; Reucroft, S.; Davies, G.; Baringer, P.; Rich, P.; Rieger, J.; Rijssenbeek, M.; Ripp-Baudot, I.; Haas, A.; Merkin, M.; Rizatdinova, F.; Goussiou, A.; Robinson, S.; Rodrigues, R. F.; Rominsky, M.; Royon, C.; De, K.; Rubinov, P.; Barreto, J.; Ruchti, R.; Merritt, K. W.; Safronov, G.; Hadley, N. J.; Kharzheev, Y. M.; Sajot, G.; Sanchez-Hernandez, A.; Sanders, M. P.; Santoro, A.; Savage, G.; Sawyer, L.; de Jong, S. J.; Meyer, J.; Scanlon, T.; Schaile, D.; Bartlett, J. F.; Khatidze, D.; Haefner, P.; Schamberger, R. D.; Scheglov, Y.; Schellman, H.; Schliephake, T.; Schwanenberger, C.; Couderc, F.; Schwartzman, A.; Schwienhorst, R.; De la Cruz-Burelo, E.; Sekaric, J.; Kim, T. J.; Severini, H.; Hagopian, S.; Shabalina, E.; Bassler, U.; Shamim, M.; Meyer, A.; Shary, V.; Shchukin, A. A.; Shivpuri, R. K.; Siccardi, V.; Simak, V.; Kirby, M. H.; Martins, C. de Oliveira; Sirotenko, V.; Cheu, E.; Skubic, P.; Millet, T.; Slattery, P.; Smirnov, D.; Bauer, D.; Snow, J.; Snow, G. R.; Snyder, S.; Kirsch, M.; Soldner-Rembold, S.; Sonnenschein, L.; Degenhardt, J. D.; Mitrevski, J.; Arnoud, Y.; Sopczak, A.; Sosebee, M.; Soustruznik, K.; Spurlock, B.; Stark, J.; Beale, S.; Klima, B.; Steele, J.; Stolin, V.; Grohsjean, A.; Stoyanova, D. A.; Strandberg, J.; Haley, J.; Deliot, F.; Strandberg, S.; Strang, M. A.; Strauss, M.; Strauss, E.; Kohli, J. M.; Stroehmer, R.; Kau, D.; Strom, D.; Bean, A.; Stutte, L.; Sumowidagdo, S.; Hall, I.; Svoisky, P.; Demarteau, M.; Sznajder, A.; Talby, M.; Autermann, C.; Baldin, B.; Tamburello, P.; Tanasijczuk, A.; Taylor, W.; Temple, J.; Tiller, B.; Begalli, M.; Hall, R. E.; Tissandier, F.; Titov, M.; Demina, R.; Molina, J.; Konrath, J. -P.; Tokmenin, V. V.; Toole, T.; Torchiani, I.; Trefzger, T.; Tsybychev, D.; Tuchming, B.; Tully, C.; Han, L.; Tuts, P. M.; Mommsen, R. K.; Begel, M.; Korablev, V. M.; Unalan, R.; Alves, G. A.; Uvarov, S.; Uvarov, L.; Uzunyan, S.; Vachon, B.; van den Berg, P. J.; van Kooten, R.; Mondal, N. K.; Hansson, P.; van Leeuwen, W. M.; Grannis, P. D.; Varelas, N.; Varnes, E. W.; Belanger-Champagne, C.; Denisov, D.; Vasilyev, I. A.; Vaupel, M.; Verdier, P.; Moore, R. W.; Vertogradov, L. S.; Verzocchi, M.; Harder, K.; Claes, D.; Villeneuve-Seguier, F.; Vint, P.; Vokac, P.; Von Toerne, E.; Vorwerk, V.; Denisov, S. P.; Moulik, T.; Bellantoni, L.; Voutilainen, M.; Wagner, R.; Wahl, H. D.; Kozelov, A. V.; Harel, A.; Wang, L.; Wang, M. H. L. S.; Warchol, J.; Watts, G.; Muanza, G. S.; Wayne, M.; Weber, M.; Desai, S.; Weber, G.; Bellavance, A.; Krop, D.; Welty-Rieger, L.; Harrington, R.; Wenger, A.; Wermes, N.; Cousinou, M. -C.; Wetstein, M.; White, A.; Wicke, D.; Wilson, G. W.; Wimpenny, S. J.; Diehl, H. T.; Kuhl, T.; Wobisch, M.; Wood, D. R.; Hauptman, J. M.; Mulders, M.; Benitez, J. A.; Wyatt, T. R.; Xie, Y.; Yacoob, S.; Yamada, R.; Yan, M.; Yasuda, T.; Kumar, A.; Yatsunenko, Y. A.; Diesburg, M.; Mulhearn, M.; Yip, K.; Chevallier, F.; Yoo, H. D.; Youn, S. W.; Beri, S. B.; Yu, J.; Zatserklyaniy, A.; Zeitnitz, C.; Kunori, S.; Zhao, T.; Kaur, R.; Zhou, B.; Zhu, J.; Dominguez, A.; Hauser, R.; Zielinski, M.; Zieminska, D.; Zieminski, A.; Zivkovic, L.; Bernardi, G.; Kupco, A.; Anzelc, M. S.; Zutshi, V.; Zverev, E. G.; Bernhard, R.; Bertram, I.; Besancon, M.; Arov, M.; Dong, H.; Beuselinck, R.; Bezzubov, V. A.; Bhat, P. C.; Mundal, O.; Kurca, T.; Bhatnagar, V.; Biscarat, C.; Blazey, G.; Blekman, F.; Blessing, S.; Bloch, D.; Hays, J.; Bloom, K.; Dudko, L. V.; Mundim, L.; Boehnlein, A.; Kvita, J.; Boline, D.; Bolton, T. A.; Borissov, G.; Bose, T.; Brandt, A.; Brock, R.; Brooijmans, G.; Hebbeker, T.; Bandurin, D. V.; Bross, A.; Brown, D.; Avila, C.; Duflot, L.; Buchanan, N. J.; Buchholz, D.; Buehler, M.; Buescher, V.; Bunichev, V.; Burdin, S.; Nagy, E.; Burke, S.; Hedin, D.; Burnett, T. H.; Greenlee, H.; Buszello, C. P.; Butler, J. M.; Dugad, S. R.; Calfayan, P.; Calvet, S.; Cammin, J.; Naimuddin, M.; Carvalho, W.; Casey, B. C. K.; Cason, N. M.; Hegeman, J. G.; Lacroix, F.; Castilla-Valdez, H.; Chakrabarti, S.; Chakraborty, D.; Chan, K. M.; Anastasoaie, M.; Narain, M.; Chan, K.; Chandra, A.; Duggan, D.; Duperrin, A.; Dyer, J.; Alton, A.; Heinmiller, J. M.; Dyshkant, A.; Eads, M.; Edmunds, D.; Naumann, N. A.; Ellison, J.; Elvira, V. D.; Enari, Y.; Eno, S.; Ancu, L. S.; Ermolov, P.; Lam, D.; Evans, H.; Heinson, A. P.; Evdokimov, A.; Neal, H. A.; Evdokimov, V. N.; Ferapontov, A. V.; Ferbel, T.; Fiedler, F.; Filthaut, F.; Fisher, W.; Fisk, H. E.; Lammers, S.; Andeen, T.; Ford, M.; Crepe-Renaudin, S.; Heintz, U.; Fortner, M.; Fox, H.; Fu, S.; Fuess, S.; Gadfort, T.; Galea, C. F.; Gallas, E.; Landsberg, G.; Galyaev, E.; Kaushik, V.; Garcia, C.; Anderson, S.; Hensel, C.; Garcia-Bellido, A.; Gavrilov, V.; Gay, P.; Geist, W.; Gele, D.; Gerber, C. E.; Lebrun, P.; Negret, J. P.; Gershtein, Y.; Gillberg, D.; Ginther, G.; Gollub, N.; Cho, D. K.; Andrieu, B.; Gomez, B.; Herner, K.; Hesketh, G.; Arthaud, M.; Charles, F.; Lee, W. M.; Hildreth, M. D.; Hirosky, R.; Hobbs, J. D.; Hoeneisen, B.; Hoeth, H.; Hohlfeld, M.; Hong, S. J.; Choi, S.; Hossain, S.; Neustroev, P.; Houben, P.; Leflat, A.; Hu, Y.; Askew, A.; Hubacek, Z.; Hynek, V.; Iashvili, I.; Illingworth, R.; Ito, A. S.; Jabeen, S.; Nilsen, H.; Choudhary, B.; Jaffre, M.; Lehner, F.; Jain, S.; Jakobs, K.; Jarvis, C.; Asman, B.; Jesik, R.; Johns, K.; Johnson, C.; Nogima, H.; Johnson, M.; Jonckheere, A.; Christofek, L.; Lellouch, J.; Jonsson, P.; Juste, A.; Kajfasz, E.; Kalinin, A. M.; Kalk, J. R.; Jesus, A. C. S. Assis; Novaes, Sérgio Ferraz; Kalk, J. M.; Kappler, S.; Karmanov, D.; Kasper, P. A.; Greenwood, Z. D.; Christoudias, T.; Katsanos, I.; Leveque, J.; Ay, C.; Coadou, Y.; Banerjee, S.; Li, J.; Li, Q. Z.; Li, L.; Lietti, S. M.; Lima, J. G. R.; Lincoln, D.; Linnemann, J.; Gregores, E. M.; Lipaev, V. V.; Lipton, R.; Nunnemann, T.; Liu, Y.; Cooke, M.; Badaud, F.; Liu, Z.; Lobodenko, A.; Lokajicek, M.; Love, P.; Lubatti, H. J.; Grenier, G.; Luna, R.; O'Dell, V.; Lyon, A. L.; Maciel, A. K. A.; Mackin, D.; Cooper, W. E.; Madaras, R. J.; Baden, A.; Maettig, P.; Magass, C.; Magerkurth, A.; Gris, Ph.; O'Neil, D. C.; Mal, P. K.; Malbouisson, H. B.; Malik, S.; Malyshev, V. L.; Mao, H. S.; Corcoran, M.; Maravin, Y.; Martin, B.; Bagby, L.; McCarthy, R.; Kehoe, R.; Grivaz, J. -F.; Melnitchouk, A.; Obrant, G.; Cutts, D.; Grunendahl, S.; Ochando, C.; Onoprienko, D.; Oshima, N.; Osta, J.; Otec, R.; Otero y Garzon, G. J.; Banerjee, P.; Kermiche, S.; Owen, M.; Padley, P.; Pangilinan, M.; Grurnewald, M. W.; Cwiok, M.; Parashar, N.; Park, S. -J.; Park, S. K.; Parsons, J.; Partridge, R.; Atramentov, O.; Parua, N.; Patwa, A.; Barberis, E.; Pawloski, G.; Guo, J.; Penning, B.; da Motta, H.; Perfilov, M.; Peters, K.; Peters, Y.; Khalatyan, N.; Petroff, P.; Petteni, M.; Piegaia, R.; Piper, J.; Pleier, M. -A.; Guo, F.; Barfuss, A. -F.; Podesta-Lerma, P. L. M.; Alverson, G.; Podstavkov, V. M.; Khanov, A.; Pogorelov, Y.

Please use this identifier to cite or link to this item: http://acervodigital.unesp.br/handle/11449/24481

Title:

Search for excited electrons in p(p)over-bar collisions at root s=1.96 TeV

Author(s):

Institution:

Joint Nucl Res Inst
Univ Buenos Aires
Centro Brasileiro de Pesquisas Físicas (CBPF)
Univ Estado Rio de Janeiro
Universidade Federal do ABC (UFABC)
Universidade Estadual Paulista (UNESP)
Univ Alberta
Simon Fraser Univ
York Univ
McGill Univ
Univ Sci & Technol China
Universidad de los Andes
Charles Univ Prague
Czech Tech Univ Prague
Acad Sci Czech Republic
Univ San Francisco
Univ Clermont Ferrand
Univ Grenoble 1
Univ Aix Marseille 2
Univ Paris 11
Univ Paris 04
Univ Paris 07
CEA
Univ Strasbourg 1
Univ Haute Alsace
Univ Lyon 1
Univ Lyon
RWTH Aachen University
Univ Bonn
Univ Freiburg
Johannes Gutenberg Univ Mainz
Univ Munich
Univ Wuppertal
Panjab Univ
University of Delhi
Tata Inst Fundamental Res
Univ Coll Dublin
Korea University
Sungkyunkwan Univ
CINVESTAV
NIKHEF H
Univ Amsterdam
Radboud Univ Nijmegen
Institute for Theoretical and Experimental Physics (ITEP)
Moscow MV Lomonosov State Univ
Inst High Energy Phys
Petersburg Nucl Phys Inst
Lund Univ
Royal Inst Technol
Stockholm Univ
Uppsala Univ
Univ Zurich
University of Lancaster
Univ London Imperial Coll Sci Technol & Med
University of Manchester
University of Arizona
Lawrence Berkeley Natl Lab
Univ Calif Berkeley
Calif State Univ Fresno
University of California, Riverside (UCR)
Florida State University
Fermilab Natl Accelerator Lab
Univ Illinois
No Illinois Univ
Northwestern University (NU)
Indiana University
Univ Notre Dame
Purdue University Calumet
Iowa State Univ
University of Kansas (KU)
Kansas State University
Louisiana Tech University
University of Maryland
Boston University
Northeastern University
University of Michigan
Michigan State University
University of Mississippi
Univ Nebraska
Princeton University
SUNY Buffalo
Columbia University
University of Rochester
SUNY Stony Brook
Brookhaven Natl Lab
Langston Univ
University of Oklahoma
Oklahoma State Univ
Brown University
Univ Texas Arlington
So Methodist Univ
Rice University
University of Virginia (UVA)
University of Washington

ISSN:

1550-7998

Abstract:

We present the results of a search for the production of an excited state of the electron, e(*), in proton-antiproton collisions at root s = 1.96 TeV. The data were collected with the D0 experiment at the Fermilab Tevatron Collider and correspond to an integrated luminosity of approximately 1 fb(-1). We search for e(*) in the process p (p) over bar -> e(*)e, with the e(*) subsequently decaying to an electron plus photon. No excess above the standard model background is observed. Interpreting our data in the context of a model that describes e(*) production by four-fermion contact interactions and e(*) decay via electroweak processes, we set 95% C.L. upper limits on the production cross section ranging from 8.9 to 27 fb, depending on the mass of the excited electron. Choosing the scale for contact interactions to be Lambda = 1 TeV, excited electron masses below 756 GeV are excluded at the 95% C.L.

Issue Date:

1-May-2008

Citation:

Physical Review D. College Pk: Amer Physical Soc, v. 77, n. 9, p. 8, 2008.

Time Duration:

8

Publisher:

Amer Physical Soc

Source:

http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevD.77.091102

URI:

http://hdl.handle.net/11449/24481

Access Rights:

Acesso restrito

Type:

outro

Source:

http://repositorio.unesp.br/handle/11449/24481

Artigos, TCCs, Teses e Dissertações da Unesp

There are no files associated with this item.

Show full item record View Statistics