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Utilize este identificador para citar ou criar um link para este item: http://acervodigital.unesp.br/handle/11449/66434
Título: 
Effect of thermal treatment on the morphology of PLZT thin films prepared from polymeric precursor method
Autor(es): 
Instituição: 
  • Universidade Estadual Paulista (UNESP)
  • Universidade Federal de São Carlos (UFSCar)
ISSN: 
1013-9826
Resumo: 
Lead lanthanum zirconate titanate (PLZT) thin films with (9/65/35) stoichiometry were prepared by dip coating from polymeric precursor method. The films deposited on silicon (100) substrates, were thermally treated from 450° to 700°C for 6 hours in order to study the influence of thermal treatment on the crystallinity, microstructure, grain size and roughness of the final film. X-ray diffraction results showed that PLZT phase crystallizes at low temperature (500°C) and present preferential orientation. It was observed by scanning electron microscopy (SEM) that it is possible to obtain dense thin films at temperatures around 650°C. The atomic force microscopy (AFM) studies showed that the grain size and roughness are strongly influenced by the annealing temperature.
Data de publicação: 
1-Jan-2001
Citação: 
Key Engineering Materials, v. 189-191, p. 155-160, 2001.
Duração: 
155-160
Palavras-chaves: 
  • Annealing
  • Atomic force microscopy
  • Crystal microstructure
  • Crystal orientation
  • Grain size and shape
  • Lead compounds
  • Scanning electron microscopy
  • Stoichiometry
  • Surface roughness
  • X ray diffraction analysis
  • Crystallinity
  • Lead lanthanum zirconate titanate
  • Thin films
Fonte: 
http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/KEM.189-191.155
Endereço permanente: 
Direitos de acesso: 
Acesso restrito
Tipo: 
outro
Fonte completa:
http://repositorio.unesp.br/handle/11449/66434
Aparece nas coleções:Artigos, TCCs, Teses e Dissertações da Unesp

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