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Please use this identifier to cite or link to this item: http://acervodigital.unesp.br/handle/11449/10041
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DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorMaurity, A.J.S-
dc.contributor.authorLunas, F.R-
dc.contributor.authorCarvalho, C.L-
dc.contributor.authorReynoso, V.C.S-
dc.contributor.authorAquino, Hermes Adolfo de-
dc.date.accessioned2014-05-20T13:29:41Z-
dc.date.available2014-05-20T13:29:41Z-
dc.date.issued2012-03-01-
dc.identifierhttp://www.scielo.br/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S1806-11172012000100007-
dc.identifier.citationRevista Brasileira de Ensino de Física. Sociedade Brasileira de Física, v. 34, n. 1, p. 1-8, 2012.-
dc.identifier.issn1806-1117-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11449/10041-
dc.description.abstractNeste trabalho foi montado um sistema para determinar propriedades de transporte, tais como, a resistividade elétrica, a densidade e a mobilidade dos portadores de carga elétrica de filmes finos utilizando o efeito Hall, nas condições de laboratório de ensino, utilizando materiais de fácil aquisição. Filmes finos de SnO2 dopados com Fluor obtidos por processos químicos de deposição foram caracterizados e apresentaram resultados consistentes com o que existe na literatura.pt
dc.description.abstractIn this work was built a system to determine transport properties such as electrical resistivity, charge carrier density and mobility of thin films using Hall effect in special conditions of undergraduate laboratory using no special materials either instruments. SnO2 thin films doped with fluor obtained by chemical process were characterized using the developed methodology and presented consistent results those reported in literature.en
dc.description.sponsorshipFundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo (FAPESP)-
dc.description.sponsorshipConselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico (CNPq)-
dc.description.sponsorshipCoordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior (CAPES)-
dc.description.sponsorshipFundação para o Desenvolvimento da UNESP (FUNDUNESP)-
dc.format.extent1-8-
dc.language.isopor-
dc.publisherSociedade Brasileira de Física-
dc.sourceSciELO-
dc.subjectefeito Hallpt
dc.subjectfilmes finospt
dc.subjectresistividadept
dc.subjectmobilidadept
dc.subjectportadores de cargaspt
dc.subjectHall Effecten
dc.subjectthin filmen
dc.subjectresistivityen
dc.subjectmobilityen
dc.subjectcharge carriersen
dc.titleConstrução de um sistema de caracterização das propriedades de transporte de filmes finos pelo efeito Hallpt
dc.title.alternativeConstruction of a system for characterization of transport properties of thin films by Hall effecten
dc.typeoutro-
dc.contributor.institutionUniversidade Estadual Paulista (UNESP)-
dc.description.affiliationUniversidade Estadual Paulista Julio de Mesquita Filho Departamento de Física e Química-
dc.description.affiliationUnespUniversidade Estadual Paulista Julio de Mesquita Filho Departamento de Física e Química-
dc.identifier.doi10.1590/S1806-11172012000100007-
dc.identifier.scieloS1806-11172012000100007-
dc.identifier.wosWOS:000302011500007-
dc.rights.accessRightsAcesso aberto-
dc.identifier.fileS1806-11172012000100007.pdf-
dc.relation.ispartofRevista Brasileira de Ensino de Física-
Appears in Collections:Artigos, TCCs, Teses e Dissertações da Unesp

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