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http://acervodigital.unesp.br/handle/11449/10091Registro de metadados completo
| Campo DC | Valor | Idioma |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Santos, I. A. | - |
| dc.contributor.author | Mendes, R. G. | - |
| dc.contributor.author | Eiras, J. A. | - |
| dc.contributor.author | Guerra, J. de Los S. | - |
| dc.contributor.author | Araujo, E. B. | - |
| dc.date.accessioned | 2014-05-20T13:29:48Z | - |
| dc.date.accessioned | 2016-10-25T16:49:04Z | - |
| dc.date.available | 2014-05-20T13:29:48Z | - |
| dc.date.available | 2016-10-25T16:49:04Z | - |
| dc.date.issued | 2009-06-01 | - |
| dc.identifier | http://dx.doi.org/10.1007/s00339-008-5060-7 | - |
| dc.identifier.citation | Applied Physics A-materials Science & Processing. New York: Springer, v. 95, n. 3, p. 757-760, 2009. | - |
| dc.identifier.issn | 0947-8396 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11449/10091 | - |
| dc.identifier.uri | http://acervodigital.unesp.br/handle/11449/10091 | - |
| dc.description.abstract | The dielectric properties of Sr0.75Ba0.25Nb2O6 relaxor ferroelectric thin films were carefully analyzed. In contrast to bulk samples which present three distinct dielectric relaxation phenomena Sr0.75Ba0.25Nb2O6 thin films present only two of them. The suppression of the third anomaly can be mainly attributed to the narrow grain size distribution of nanograins and weak tensile strains imposed to the film from the substrate. The whole set of results point to the interpretation of a dielectric response characteristic of mesoscopic structure, which is composed of clusters and nanodomains. | en |
| dc.description.sponsorship | Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo (FAPESP) | - |
| dc.description.sponsorship | Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior (CAPES) | - |
| dc.description.sponsorship | Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico (CNPq) | - |
| dc.format.extent | 757-760 | - |
| dc.language.iso | eng | - |
| dc.publisher | Springer | - |
| dc.source | Web of Science | - |
| dc.title | Dielectric investigations in Sr0.75Ba0.25Nb2O6 relaxor ferroelectric thin films | en |
| dc.type | outro | - |
| dc.contributor.institution | Universidade Estadual de Maringá (UEM) | - |
| dc.contributor.institution | Universidade Federal de São Carlos (UFSCar) | - |
| dc.contributor.institution | Universidade Federal de Uberlândia (UFU) | - |
| dc.contributor.institution | Universidade Estadual Paulista (UNESP) | - |
| dc.description.affiliation | Universidade Estadual de Maringá (UEM), Dept Fis, Grp Desenvolvimento Disposit Multifuncionais, BR-87020900 Maringa, Parana, Brazil | - |
| dc.description.affiliation | Universidade Federal de São Carlos (UFSCar), Dept Fis, Grp Ceram Ferroeletr, BR-13565905 São Carlos, SP, Brazil | - |
| dc.description.affiliation | Universidade Federal de Uberlândia (UFU), Inst Fis, Grp Ferroeletr & Mat Multifuncionais, BR-38400902 Uberlandia, MG, Brazil | - |
| dc.description.affiliation | Univ Estadual Paulista, Dept Quim & Fis, Grp Ferroeletr & Novos Mat, BR-15385000 Ilha Solteira, SP, Brazil | - |
| dc.description.affiliationUnesp | Univ Estadual Paulista, Dept Quim & Fis, Grp Ferroeletr & Novos Mat, BR-15385000 Ilha Solteira, SP, Brazil | - |
| dc.description.sponsorshipId | CNPq: 554855/2006-2 | - |
| dc.identifier.doi | 10.1007/s00339-008-5060-7 | - |
| dc.identifier.wos | WOS:000264809500023 | - |
| dc.rights.accessRights | Acesso restrito | - |
| dc.relation.ispartof | Applied Physics A-materials Science & Processing | - |
| Aparece nas coleções: | Artigos, TCCs, Teses e Dissertações da Unesp | |
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