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Utilize este identificador para citar ou criar um link para este item: http://acervodigital.unesp.br/handle/11449/25382
Título: 
Impact of oxygen atmosphere on piezoelectric properties of CaBi2Nb2O9 thin films
Autor(es): 
Instituição: 
  • Universidade Estadual Paulista (UNESP)
  • Universidade Federal de São Carlos (UFSCar)
  • Georgia Inst Technol
ISSN: 
1359-6454
Resumo: 
CaBi2Nb2O9 (CBNO) thin films were deposited on platinum-coated silicon substrates by the polymeric precursor method, and were annealed in air and in an oxygen atmosphere. The structure, surface morphology and electrical properties of CBNO thin films have been investigated. The presence of an oxygen atmosphere during crystallization of the films affected the structure perfection and morphology, as well as ferroelectric and piezoelectric properties. A reduction in P-r and piezoelectric coefficient, an increase of V-c and displacement of the Curie point is evident in the films crystallized in an oxygen atmosphere. The impact of exposure to the oxygen atmosphere on the creation of defects caused by bismuth and oxygen vacancies between layers was also investigated by X-ray photoelectron spectroscopy. (c) 2007 Acta Materialia Inc. Published by Elsevier Ltd. All rights reserved.
Data de publicação: 
1-Ago-2007
Citação: 
Acta Materialia. Oxford: Pergamon-Elsevier B.V., v. 55, n. 14, p. 4707-4712, 2007.
Duração: 
4707-4712
Publicador: 
Elsevier B.V.
Palavras-chaves: 
  • piezoelectricity
  • vacancies
  • point defects
  • CaBi2Nb2O9
  • x-ray photoelectron spectroscopy
Fonte: 
http://dx.doi.org/10.1016/j.actamat.2007.04.030
Endereço permanente: 
Direitos de acesso: 
Acesso restrito
Tipo: 
outro
Fonte completa:
http://repositorio.unesp.br/handle/11449/25382
Aparece nas coleções:Artigos, TCCs, Teses e Dissertações da Unesp

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